本期我們和大家一起討論多模光纖測試中一個特殊的要求，環通量EF。

在上圖中，自上而下，分別是LED光源、VCSEL垂直腔表面發射激光以及激光光源。我們理想的光源當然是平行光入射，沒有入射角的，但除了激光光源外，很難實現沒有入射角的投射方式，然而事實上激光光源也是有入射角，只是非常小，可以忽略。
我們來看LED入射方式，它其實是通過滿注入的方式投射到光纖，我們知道多模光纖孔徑是62.5微米或者50微米，當LED投射到光纖端面，如果把投射面看作一個射擊靶盤，那么滿注入相當于光源投射在直徑為100微米的靶盤內，而VCSEL光源相當于投射的直徑為35微米的靶盤內，激光光源投射的是直徑為10微米的靶盤內。

也就是說，不同光源會導致不同靶盤面積，這個我們可以把它看作入射光的通過量。日常使用時，我們連接光纖時，由于對位不齊，很容易造成極小偏芯的情況，這使得采用LED光源做測試時，會帶來很大的不確定度，嚴重的可以導致50%以上不確定度，因此國際標準ISO11801和TIA568.3-D以及國標GB50312中都增加了對測試儀表光源發光的EF環通量的要求，即將靶盤有效區域控制在一定區域內，一般控制在直徑45微米以內的區域內，這樣測試的不確定性能夠降至10%以內。

在上圖中我們可以看到，要實現穩定的EF光環通量，不僅需要支持EF-LED的優化光源，也需要加入支持EF環通量的光纖測試跳線，我們一般把它稱作EF餅干跳線，通過EF調節后，使得光纖輸出末端的光能量集中在半徑是22μm~25μm的靶心區域。